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高低温测试是用来确定产品在高温或低温气候环境条件下储存、运送、运用的适应性的办法。实验的严苛程度取决于高温或低温的温度和曝露持续时刻。
一、高低温测试标准:
GB_T 2423.2-2008电工电子产品环境实验第2部分:实验办法实验B:高温
G 2423.1-2008电工电子产品环境实验第2部分:实验办法实验A:低温
IEC 60068-2-2根本环境实验规程第2-2部分:实验实验B:干热
IEC 60068-2-1:2007电工电子产品环境实验:低温
二、适用的行业包括:
电子、元器件、电路板、通讯、LED、液晶屏、仪器仪表、电容、车辆、医药、塑胶、金属、化学、建材等行业产品。
三、高低温实验箱主要能够展开以下项目实验:
(1)高温实验
实验意图:用来查核实验样品在高温条件下储存或运用的适应性。应用于比如像热带天气或炼钢厂等高温环境下作业的仪器、设备等。
实验设备:高低温(湿热)实验箱。
实验条件:一般选定一稳定的温度应力和坚持时刻。
优选常用温度:200℃,175℃,155℃,125℃,100℃,85℃,70℃,55℃等;
优选常用的实验时刻有:2h,16h,72h,96h等。
51系列单片机有5个中断源,其中有2个是外部输入中断源INT0和INT1。可由中断控制寄存器TCON的IT1(TCON.2)和IT0(TCON.1)分别控制外部输入中断1和中断0的中断触发方式。若为0,则外部输入中断控制为电平触发方式;若为1,则控制为边沿触发方式。这里是下降沿触发中断。问题的引出几乎国内所有的单片机资料对单片机边沿触发中断的响应时刻方面的定义都是不明确的或者是错误的。文献中关于边沿触发中断响应时刻的描述为“对于脉冲触发方式(即边沿触发方式)要检测两次电平,若前一次为高电平,后一次为低电平,则表示检测到了负跳变的有效中断请求信号”,但实际情况却并非如此。
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